Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 2010年10月29日
如封面与标题不符，以标题为准

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

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This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2010年10月29日
ISBN13 9781441922090
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 522
商品尺寸 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
语言 英语  
编辑 Wang, Zhong Lin
编辑 Zhou, Weilie

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