MOS Interface Physics, Process and Characterization - Shengkai Wang - 图书 - Taylor & Francis Ltd - 9781032106274 - 2021年10月12日
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Shengkai Wang
MOS Interface Physics, Process and Characterization 第1 版本

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The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

200 pages, 97 Line drawings, black and white; 26 Halftones, black and white; 1 Tables, black and whi

介质类型 图书     Hardcover Book   (精装硬皮书)
已发行 2021年10月12日
ISBN13 9781032106274
出版商 Taylor & Francis Ltd
页数 162
商品尺寸 235 × 157 × 17 mm   ·   390 g
语言 英语  

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