High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 2012年1月31日
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

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This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

介质类型 图书     Hardcover Book   (精装硬皮书)
已发行 2012年1月31日
原始发行日期 2011
ISBN13 9781441999757
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 193
商品尺寸 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
语言 英语  

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