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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability Stephan Eggersgluss 2012 edition
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元 710
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预计送达时间 年6月19日 - 年7月1日
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Stephan Eggersgluss
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
193 pages, 52 black & white tables, biography
| 介质类型 | 图书 Hardcover Book (精装硬皮书) |
| 已发行 | 2012年1月31日 |
| 原始发行日期 | 2011 |
| ISBN13 | 9781441999757 |
| 出版商 | Springer-Verlag New York Inc. |
| 页数 | 193 |
| 商品尺寸 | 155 × 235 × 12 mm · 476 g |
| 语言 | 英语 |