Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis - Joseph Goldstein - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461344247 - 2011年10月12日
如封面与标题不符,以标题为准

Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1975 edition

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In the spring of 1963, a well-known research institute made a market survey to assess how many scanning electron microscopes might be sold in the United States. This range overlaps considerably with the light microscope at the low end, and with the electron microscope at the high end.


582 pages, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2011年10月12日
ISBN13 9781461344247
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 582
商品尺寸 155 × 235 × 31 mm   ·   834 g
语言 英语  
编辑 Goldstein, Joseph

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