Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Name: Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing
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Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing

Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

介质类型	图书 Paperback Book (平装胶订图书)
已发行	2012年10月4日
ISBN13	9781461377986
出版商	Springer-Verlag New York Inc.
页数	167
商品尺寸	150 × 220 × 10 mm · 369 g
语言	英语
编辑	Zorian, Yervant