Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 2012年1月30日
如封面与标题不符,以标题为准

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

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The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2012年1月30日
ISBN13 9781461588818
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 491
商品尺寸 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
语言 英语  
编辑 Meyer, Otto

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