Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology - - 图书 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156145 - 2020年8月25日
如封面与标题不符，以标题为准

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology 2019 edition

价格
元 1.286
不含税

远程仓调货

预计送达时间 年6月15日 - 年6月25日

顾客评价：

根据欧洲消费者保护法享受14天退换货政策
Trustpilot平台高分认证
添加至iMusic心愿单

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2020年8月25日
ISBN13 9783030156145
出版商 Springer Nature Switzerland AG
页数 408
商品尺寸 150 × 220 × 10 mm   ·   652 g
语言 德语  
编辑 Celano, Umberto

Mere med samme udgiver