Helium Ion Microscopy - NanoScience and Technology - - 图书 - Springer International Publishing AG - 9783319824734 - 2018年6月16日
如封面与标题不符，以标题为准

Helium Ion Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

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This book covers the fundamentals of Helium Ion Microscopy (HIM) including the Gas Field Ion Source (GFIS), column and contrast formation. The expert reader will find a complete reference of the technique covering all important applications in several chapters written by the leading experts in the field.

526 pages, 100 Tables, color; 204 Illustrations, color; 116 Illustrations, black and white; XXIII, 5

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2018年6月16日
ISBN13 9783319824734
出版商 Springer International Publishing AG
页数 526
商品尺寸 156 × 234 × 32 mm   ·   814 g
语言 德语  
编辑 Golzhauser, Armin
编辑 Hlawacek, Gregor

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