Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - 图书 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093418 - 2010年11月30日
如封面与标题不符，以标题为准

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

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The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

446 pages, 25 black & white tables, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2010年11月30日
ISBN13 9783642093418
出版商 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
页数 387
商品尺寸 155 × 235 × 23 mm   ·   674 g
语言 德语  
编辑 Bhushan, Bharat
编辑 Fuchs, Harald
编辑 Tomitori, Masahiko

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