VLSI Design and Test for Systems Dependability - - 图书 - Springer Verlag, Japan - 9784431565925 - 2018年8月1日
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VLSI Design and Test for Systems Dependability 1st ed. 2019 edition

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This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

800 pages, 20 Tables, color; 352 Illustrations, color; 233 Illustrations, black and white; XVII, 800

介质类型 图书     Book
已发行 2018年8月1日
ISBN13 9784431565925
出版商 Springer Verlag, Japan
页数 800
商品尺寸 164 × 242 × 50 mm   ·   1,38 kg
编辑 Asai, Shojiro

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