Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications - Greg Haugstad - 图书 - John Wiley & Sons Inc - 9780470638828 - 2012年10月16日
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Greg Haugstad
Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications

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This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).

488 pages, Illustrations

介质类型 图书     Hardcover Book   (精装硬皮书)
已发行 2012年10月16日
ISBN13 9780470638828
出版商 John Wiley & Sons Inc
页数 528
商品尺寸 163 × 244 × 31 mm   ·   794 g
语言 英语  

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