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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D.K. Bowen 第1 版本
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元 1.926
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预计送达时间 年7月14日 - 年7月30日
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
D.K. Bowen
The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.
264 pages, black & white illustrations
| 介质类型 | 图书 Hardcover Book (精装硬皮书) |
| 已发行 | 1998年2月5日 |
| ISBN13 | 9780850667585 |
| 出版商 | Taylor & Francis Ltd |
| 页数 | 262 |
| 商品尺寸 | 178 × 263 × 20 mm · 656 g |
| 语言 | 英语 |
