CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - 图书 - Cambridge University Press - 9781107408326 - 2014年6月5日
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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

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The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

194 pages, black & white illustrations

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2014年6月5日
ISBN13 9781107408326
出版商 Cambridge University Press
页数 194
商品尺寸 152 × 229 × 10 mm   ·   412 g   (预估重量)
语言 英语  
编辑 Butterbaugh, Jeffery W.
编辑 Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
编辑 Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
编辑 Rachmady, Willy
编辑 Taylor, Bill

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