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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
179 pages, illustrations
| 介质类型 | 图书 Hardcover Book (精装硬皮书) |
| 已发行 | 2009年11月19日 |
| ISBN13 | 9781605111285 |
| 出版商 | Materials Research Society |
| 页数 | 194 |
| 商品尺寸 | 160 × 236 × 18 mm · 432 g |
| 语言 | 英语 |
| 编辑 | Butterbaugh, Jeffery W. |
| 编辑 | Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin) |
| 编辑 | Harris, H. Rusty (Texas A & M University) |
| 编辑 | Rachmady, Willy |
| 编辑 | Taylor, Bill |
