Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - 2013年6月8日
如封面与标题不符,以标题为准

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

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This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2013年6月8日
ISBN13 9781475790290
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 454
商品尺寸 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
语言 英语  

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