Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 2013年6月4日
如封面与标题不符，以标题为准

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

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Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2013年6月4日
ISBN13 9781489915245
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 462
商品尺寸 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
语言 英语  
编辑 Thong, John T.L.

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