分享给好友:
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation Fangzhou Xia
价格
元 469
不含税
远程仓调货
预计送达时间 年7月6日 - 年7月16日
添加至iMusic心愿单
其他版本:
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Fangzhou Xia
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
| 介质类型 | 图书 Paperback Book (平装胶订图书) |
| 已发行 | 2025年2月7日 |
| ISBN13 | 9783031442353 |
| 出版商 | Springer International Publishing AG |
| 页数 | 366 |
| 商品尺寸 | 150 × 220 × 10 mm · 664 g |
| 语言 | 德语 |