Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - 图书 - Springer International Publishing AG - 9783031442353 - 2025年2月7日
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

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From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2025年2月7日
ISBN13 9783031442353
出版商 Springer International Publishing AG
页数 366
商品尺寸 150 × 220 × 10 mm   ·   664 g
语言 德语  

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