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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Peter Pichler 2004 edition
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
| 介质类型 | 图书 Hardcover Book (精装硬皮书) |
| 已发行 | 2004年6月2日 |
| ISBN13 | 9783211206874 |
| 出版商 | Springer Verlag GmbH |
| 页数 | 554 |
| 商品尺寸 | 178 × 254 × 31 mm · 1,18 kg |
| 语言 | 英语 德语 |
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