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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Lecture Notes in Electrical Engineering Xiao Liu Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition
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预计送达时间 年6月30日 - 年7月16日
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Lecture Notes in Electrical Engineering
Xiao Liu
This book surveys state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits, discusses key challenges in post-silicon validation and offers automated solutions that are systematic and cost-effective.
123 pages, 21 black & white illustrations, 38 colour illustrations, 18 black & white tables, biograp
| 介质类型 | 图书 Paperback Book (平装胶订图书) |
| 已发行 | 2016年8月23日 |
| ISBN13 | 9783319375946 |
| 出版商 | Springer International Publishing AG |
| 页数 | 108 |
| 商品尺寸 | 155 × 235 × 7 mm · 185 g |
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