Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Sayil - 图书 - Springer International Publishing AG - 9783319696720 - 2017年12月4日
如封面与标题不符，以标题为准

Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 1st ed. 2018 edition

价格
元 713
不含税

远程仓调货

预计送达时间 年7月17日 - 年7月29日

顾客评价：

根据欧洲消费者保护法享受14天退换货政策
Trustpilot平台高分认证
添加至iMusic心愿单

Not rated yet

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

介质类型 图书     Book
已发行 2017年12月4日
ISBN13 9783319696720
出版商 Springer International Publishing AG
页数 93
商品尺寸 150 × 220 × 20 mm   ·   343 g
语言 德语  

Mere med samme udgiver

查看Sayil的全部作品 ( 例如 Book )