Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Sayil - 图书 - Springer International Publishing AG - 9783319696720 - 2017年12月4日
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Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 1st ed. 2018 edition

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The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

介质类型 图书     Book
已发行 2017年12月4日
ISBN13 9783319696720
出版商 Springer International Publishing AG
页数 93
商品尺寸 150 × 220 × 20 mm   ·   343 g
语言 德语  

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