Phase Change Memory: Device Physics, Reliability and Applications - - 图书 - Springer International Publishing AG - 9783319887074 - 2018年9月9日
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Phase Change Memory: Device Physics, Reliability and Applications Softcover reprint of the original 1st ed. 2018 edition

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This book describes the physics of phase change memory devices, starting from basic operation to reliability issues. The book also contains design engineering details on PCM cell architecture, PCM cell arrays (including electrical circuit management), as well as the full spectrum of possible future applications.

330 pages, 40 Tables, color; 196 Illustrations, color; 24 Illustrations, black and white; XVIII, 330

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2018年9月9日
ISBN13 9783319887074
出版商 Springer International Publishing AG
页数 330
商品尺寸 150 × 220 × 10 mm   ·   528 g
语言 德语  
编辑 Redaelli, Andrea

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