Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - 图书 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 2006年2月21日
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Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

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These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

介质类型 图书     Hardcover Book   (精装硬皮书)
已发行 2006年2月21日
原始发行日期 2005
ISBN13 9783540262428
出版商 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
页数 420
商品尺寸 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
语言 德语  
编辑 Bhushan, Bharat
编辑 Fuchs, Harald

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