Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology - Donna R. Kemp - 图书 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540373186 - 2006年10月18日
如封面与标题不符,以标题为准

Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

价格
元 1.033
不含税

远程仓调货

预计送达时间 年7月23日 - 年8月4日
添加至iMusic心愿单

Not rated yet

Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.


338 pages, 7 black & white tables, biography

介质类型 图书     Hardcover Book   (精装硬皮书)
已发行 2006年10月18日
ISBN13 9783540373186
出版商 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
页数 338
商品尺寸 155 × 235 × 19 mm   ·   648 g
语言 英语  
编辑 Bhushan, Bharat
编辑 Fuchs, Harald
编辑 Kawata, Satoshi

Donna R. Kemp的更多作品

显示全部

Mere med samme udgiver