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Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition
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Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology
Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.
279 pages, 14 black & white tables, biography
| 介质类型 | 图书 Hardcover Book (精装硬皮书) |
| 已发行 | 2008年11月4日 |
| ISBN13 | 9783540850380 |
| 出版商 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| 页数 | 224 |
| 商品尺寸 | 162 × 244 × 16 mm · 498 g |
| 语言 | 法语 |
| 编辑 | Bhushan, Bharat |
| 编辑 | Fuchs, Harald |