Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology -  - 图书 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540850380 - 2008年11月4日
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Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition

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Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.


279 pages, 14 black & white tables, biography

介质类型 图书     Hardcover Book   (精装硬皮书)
已发行 2008年11月4日
ISBN13 9783540850380
出版商 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
页数 224
商品尺寸 162 × 244 × 16 mm   ·   498 g
语言 法语  
编辑 Bhushan, Bharat
编辑 Fuchs, Harald

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