Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology -  - 图书 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - 2010年2月12日
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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

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There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2010年2月12日
ISBN13 9783642065965
出版商 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
页数 378
商品尺寸 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
语言 德语  
编辑 Bhushan, Bharat
编辑 Fuchs, Harald

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