Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - 图书 - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 2012年11月1日
如封面与标题不符,以标题为准

Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

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This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.


554 pages, 40 black & white illustrations, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2012年11月1日
ISBN13 9783709172049
出版商 Springer Verlag GmbH
页数 554
商品尺寸 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
语言 英语  

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