VLSI Design and Test - - 图书 - Springer Verlag, Singapore - 9789811074691 - 2017年12月22日
如封面与标题不符，以标题为准

VLSI Design and Test 1st ed. 2017 edition

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This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions.

815 pages, 486 Illustrations, black and white; XXI, 815 p. 486 illus.

介质类型 图书     Book
已发行 2017年12月22日
ISBN13 9789811074691
出版商 Springer Verlag, Singapore
页数 815
商品尺寸 150 × 220 × 20 mm   ·   1,25 kg
编辑 Dasgupta, Sudeb
编辑 Kaushik, Brajesh Kumar
编辑 Singh, Virendra

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