Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952875 - 2011年9月21日
如封面与标题不符，以标题为准

J. Altet
Thermal Testing of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

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Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

204 pages, 102 black & white illustrations, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2011年9月21日
ISBN13 9781441952875
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 204
商品尺寸 155 × 235 × 12 mm   ·   322 g
语言 英语  

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