Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level - Michael K. Miller - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461369219 - 2012年10月28日
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Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

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The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution.


254 pages, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2012年10月28日
ISBN13 9781461369219
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 239
商品尺寸 170 × 244 × 14 mm   ·   426 g
语言 英语  

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