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Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level Michael K. Miller Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
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Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level
Michael K. Miller
The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution.
254 pages, biography
| 介质类型 | 图书 Paperback Book (平装胶订图书) |
| 已发行 | 2012年10月28日 |
| ISBN13 | 9781461369219 |
| 出版商 | Springer-Verlag New York Inc. |
| 页数 | 239 |
| 商品尺寸 | 170 × 244 × 14 mm · 426 g |
| 语言 | 英语 |
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