Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering - Kai-yuan Cai - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375593 - 2012年10月12日
如封面与标题不符,以标题为准

Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition

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also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1


268 pages, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2012年10月12日
ISBN13 9781461375593
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 268
商品尺寸 155 × 235 × 15 mm   ·   412 g
语言 英语  

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