Advances in X-Ray Analysis: Volume 33 - - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461399988 - 2012年6月2日
如封面与标题不符，以标题为准

Advances in X-Ray Analysis: Volume 33 Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

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The Plenary Session on x-ray analysis of thin films did not just happen this year but really began four years ago with Paul Predecki suggesting a special session devoted to thin film techniques. They were invited speakers for the 1985 special session on thin films and instructors for the 1987 workshop on epitaxial thin films.

724 pages, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2012年6月2日
ISBN13 9781461399988
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 704
商品尺寸 150 × 220 × 10 mm   ·   1,14 kg
语言 英语  
编辑 Barrett, Charles S.
编辑 Gilfrich, John V.
编辑 Huang, Ting C.
编辑 Jenkins, Ron

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