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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems Amith Singhee
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems
Amith Singhee
This comprehensive book explains the problem of estimating statistics of memory performance variation induced due to IC manufacturing process variations. It further provides solutions recently proposed in the Electronic Design Automation (EDA) community.
246 pages, biography
| 介质类型 | 图书 Paperback Book (平装胶订图书) |
| 已发行 | 2012年11月5日 |
| ISBN13 | 9781461426721 |
| 出版商 | Springer-Verlag New York Inc. |
| 页数 | 246 |
| 商品尺寸 | 155 × 235 × 13 mm · 367 g |
| 语言 | 英语 |
| 编辑 | Rutenbar, Rob A. |
| 编辑 | Singhee, Amith |
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