Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems - Amith Singhee - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461426721 - 2012年11月5日
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems

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This comprehensive book explains the problem of estimating statistics of memory performance variation induced due to IC manufacturing process variations. It further provides solutions recently proposed in the Electronic Design Automation (EDA) community.


246 pages, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2012年11月5日
ISBN13 9781461426721
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 246
商品尺寸 155 × 235 × 13 mm   ·   367 g
语言 英语  
编辑 Rutenbar, Rob A.
编辑 Singhee, Amith

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