Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - Alberto Bosio - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489983145 - 2014年9月3日
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies 2010 edition

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Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.


171 pages, 22 black & white tables, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2014年9月3日
ISBN13 9781489983145
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 171
商品尺寸 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
语言 英语  

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