Microelectronic Test Structures for Cmos Technology - Manjul Bhushan - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489990556 - 2014年10月1日
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Microelectronic Test Structures for Cmos Technology

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Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.


373 pages, 37 black & white tables, biography

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2014年10月1日
ISBN13 9781489990556
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 373
商品尺寸 155 × 235 × 21 mm   ·   566 g
语言 英语  

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