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Microelectronic Test Structures for Cmos Technology Manjul Bhushan
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Microelectronic Test Structures for Cmos Technology
Manjul Bhushan
Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.
373 pages, 37 black & white tables, biography
| 介质类型 | 图书 Paperback Book (平装胶订图书) |
| 已发行 | 2014年10月1日 |
| ISBN13 | 9781489990556 |
| 出版商 | Springer-Verlag New York Inc. |
| 页数 | 373 |
| 商品尺寸 | 155 × 235 × 21 mm · 566 g |
| 语言 | 英语 |
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