Bias Temperature Instability for Devices and Circuits - - 图书 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493955299 - 2016年10月1日
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

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Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

821 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2016年10月1日
ISBN13 9781493955299
出版商 Springer-Verlag New York Inc.
页数 810
商品尺寸 150 × 220 × 10 mm   ·   1,37 kg
语言 英语  
编辑 Grasser, Tibor

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