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Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Edmund G. Seebauer 2009 edition
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Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes
Edmund G. Seebauer
"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.
298 pages, 30 black & white tables, biography
| 介质类型 | 图书 Hardcover Book (精装硬皮书) |
| 已发行 | 2008年12月1日 |
| ISBN13 | 9781848820586 |
| 出版商 | Springer London Ltd |
| 页数 | 298 |
| 商品尺寸 | 155 × 235 × 25 mm · 635 g |
| 语言 | 英语 |