Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - 图书 - Springer London Ltd - 9781848820586 - 2008年12月1日
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Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

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"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

介质类型 图书     Hardcover Book   (精装硬皮书)
已发行 2008年12月1日
ISBN13 9781848820586
出版商 Springer London Ltd
页数 298
商品尺寸 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
语言 英语  

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