Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - 图书 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 2019年2月1日
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

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其他版本:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

介质类型 图书     Paperback Book   (平装胶订图书)
已发行 2019年2月1日
ISBN13 9783030081980
出版商 Springer Nature Switzerland AG
页数 135
商品尺寸 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
语言 德语  

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