分享给好友:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Ireneusz Mrozek 1st ed. 2019 edition
价格
元 370
不含税
远程仓调货
预计送达时间 年7月13日 - 年7月23日
添加至iMusic心愿单
其他版本:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Ireneusz Mrozek
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.
135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
| 介质类型 | 图书 Hardcover Book (精装硬皮书) |
| 已发行 | 2018年7月18日 |
| ISBN13 | 9783319912035 |
| 出版商 | Springer International Publishing AG |
| 页数 | 135 |
| 商品尺寸 | 150 × 220 × 20 mm · 454 g |
| 语言 | 法语 |