Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - 图书 - Springer International Publishing AG - 9783319912035 - 2018年7月18日
如封面与标题不符,以标题为准

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

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元 370
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预计送达时间 年7月13日 - 年7月23日
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This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

介质类型 图书     Hardcover Book   (精装硬皮书)
已发行 2018年7月18日
ISBN13 9783319912035
出版商 Springer International Publishing AG
页数 135
商品尺寸 150 × 220 × 20 mm   ·   454 g
语言 法语  

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